Niveau: Supérieur, Doctorat, Bac+8
N° d'ordre : 4422 École Doctorale Sciences Pour l'Ingénieur ULP – ENSAIS – ENGEES - URS THÈSE présentée pour obtenir le grade de Docteur de l'Université Louis Pasteur – Strasbourg I Discipline : Science de l'ingénieur (Spécialité : Physique des semi-conducteurs) par Assia BELAYACHI-FARID Contribution à l'étude du cuivre dans le silicium et d'une technique de caractérisation associée Soutenue le 28 novembre 2003 Membres du jury Directeur de thèse : Thomas HEISER, Professeur, ULP Strasbourg Rapporteur interne : Daniel MATHIOT, Professeur, ULP Strasbourg Rapporteur externe : Bernard PICHAUD, Professeur, Université Aix-Marseille III Rapporteur externe : Daniel BARBIER, Professeur, INSA, Lyon Examinateur : Bachir SEMMACHE, Docteur, JIPELEC, Montpellier CNRS - PHASE UPR 292
- ulp de strasbourg
- technique de caractérisation
- science de l'ingénieur
- membres du jury directeur de thèse
- rapporteur interne